Término solicitado: PARRISH, W.^RED./(22)
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Advances in X-ray diffractometry and X-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories |
| Autor: | Parrish, W.. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Eindhoven. NL. Philips. 1962. |
| Pág./Vol.: | 233p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Geometría; Calibración; Minerales arcillosos; Micelas; Mediciones; Análisis espectroquímico; Espectrómetros; Abastecimiento de energía; Longitud de onda; Neón; Argón; Mica; Aluminio; Berilio; Níquel; Cobre; Molibdeno |
| Ubicación: | 543.422/P261a; CEQUIPE/154/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
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